تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة
عودة للموسوعةتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS) هوتقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة الهجريب البلوري للمكثورات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.
اقرأ أيضا
- تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة
- دراسة البلورات بالأشعة السينية
- حيود الأشعة السينية
تاريخ النشر:
2020-06-01 23:57:44
التصنيفات: تبعثر, تقانة علمية, حيود, مقالات بدون مصدر منذ فبراير 2016, جميع المقالات بدون مصدر, مقالات بدون مصدر منذ 2016, جميع المقالات التي بحاجة لصيانة, مقالات تحتوي نصا بالإنجليزية, بوابة الفيزياء/مقالات متعلقة, بوابة الكيمياء/مقالات متعلقة, بوابة كيمياء فيزيائية/مقالات متعلقة, بوابة أعلام/مقالات متعلقة, جميع المقالات التي تستخدم شريط بوابات, جميع مقالات البذور, بذرة أعلام
التصنيفات: تبعثر, تقانة علمية, حيود, مقالات بدون مصدر منذ فبراير 2016, جميع المقالات بدون مصدر, مقالات بدون مصدر منذ 2016, جميع المقالات التي بحاجة لصيانة, مقالات تحتوي نصا بالإنجليزية, بوابة الفيزياء/مقالات متعلقة, بوابة الكيمياء/مقالات متعلقة, بوابة كيمياء فيزيائية/مقالات متعلقة, بوابة أعلام/مقالات متعلقة, جميع المقالات التي تستخدم شريط بوابات, جميع مقالات البذور, بذرة أعلام
